探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家
xf807-czh-9型擴(kuò)音電話終端機(jī)分為xf807-czh-9a型（適用于普通安全場(chǎng)所,在交流220v斷電后相當(dāng)于普通電話機(jī)照使用）和xf807-czh-9b型。
更新時(shí)間:2025-11-02
數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
更新時(shí)間:2025-11-02
可調(diào)單色光源 光譜響應(yīng)ipce測(cè)試 探針臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)：1. 輸出方式：光纖輸出、空間光輸出、均勻光（積分球）輸出；2. 光源穩(wěn)定度好，不穩(wěn)定優(yōu)于1%；3. 波長(zhǎng)連續(xù)可調(diào) 200-
更新時(shí)間:2025-11-02
kt-z1604t型號(hào)真空探針臺(tái) 冷熱型 鄭科探廠家應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間:2025-11-02
鉻金薄膜的蒸鍍生長(zhǎng)。本文所研究的叉指電結(jié)構(gòu)采用鉻、金材料制作。先需要在玻璃襯底上生長(zhǎng)一層均勻覆蓋的薄膜。將上一步工藝過(guò)程中清洗好的玻璃片放入電子束蒸發(fā)鍍膜機(jī)中，抽真空后，先蒸鍍 50 厚度的鉻金屬層，再蒸鍍1000Å 厚度的金層，后升溫到 300℃進(jìn)行熱處理以增強(qiáng)鉻金層的黏附性。鉑金叉指電高低溫探針臺(tái)是一款門用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-11-02
叉指微電因其微小的電間距結(jié)構(gòu)可用于各種小型化傳感器。對(duì)于傳統(tǒng)分析檢測(cè)，包括色譜法、光譜法、質(zhì)譜等方法，大多都需要昂貴的儀器和多種操作步驟，使得許多實(shí)際問(wèn)題仍面臨困難。開(kāi)發(fā)高靈敏度、低成本，小型化的傳感器尤為重要。微電容單通道叉指電高低溫探針臺(tái)kt-z4019mrl4t是一款門用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。可高溫400℃低溫-196℃ 測(cè)試噪聲小于5e-13a 可擴(kuò)展上下雙透視窗口。
更新時(shí)間:2025-11-02
電的對(duì)數(shù)對(duì)叉指電傳感器信噪比的大小基本沒(méi)有影響。叉指電間距的減小可以使信噪比增大的同時(shí)提高信號(hào)幅。如應(yīng)用于化學(xué)傳感域，叉指電間距的減小還可以有效地提高化學(xué)反應(yīng)的速率、加快建立反應(yīng)進(jìn)行過(guò)程，從而能夠提高傳感器性能，并縮短叉指電傳感器反應(yīng)的時(shí)間。叉指電傳感器的電寬度的減小在提高信噪比的同時(shí)會(huì)使檢測(cè)信號(hào)的幅值降低。柔性叉指電微型探針臺(tái)是一款門用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-11-02
叉指電傳感器主要包括四個(gè)結(jié)構(gòu)參數(shù)，分別為:叉指電對(duì)的對(duì)數(shù)、叉指寬度、相鄰叉指之間的間隙距離以及叉指電的厚度。這四個(gè)參數(shù)對(duì)基于叉指電的生化傳感器關(guān)鍵性能指標(biāo)都有很大影響。硅基叉指電結(jié)構(gòu)高低溫探針臺(tái)kt-z4019mrl4t是用于叉指電的一款性價(jià)比很高的探針臺(tái)，可進(jìn)行高溫和低溫，采用純銀熱臺(tái)，有導(dǎo)熱更好，不易氧化等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-11-02
微間距的叉指電是一種為常用的微間距電結(jié)構(gòu)，它被廣泛的應(yīng)用于非破壞性測(cè)試、電子通訊、化學(xué)測(cè)試等多個(gè)域。 一般來(lái)說(shuō)，不同的應(yīng)用域?qū)τ诓嬷鸽姷男螤、幾何學(xué)尺寸、加工工藝、材料的選擇、建模分析、系統(tǒng)集成以及數(shù)據(jù)的分析都有不同的要求，因此對(duì)于不同的域我們應(yīng)該區(qū)分對(duì)待。硅基叉指電微型探針臺(tái)kt-z4019mrl4t是一款門用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-11-02
微型高低溫真空探針臺(tái)，這款真空變溫探針臺(tái)是業(yè)變溫真空晶圓流測(cè)試設(shè)計(jì)的業(yè)變溫真空探針臺(tái),滿足晶圓變溫光電測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍達(dá)到液氮溫度 -190℃~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓真空變溫測(cè)試和射頻測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-02
微型低溫探針冷臺(tái)，可定低溫制探針臺(tái)系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包括探針臺(tái)真空腔主體、鐵制抗震支架、進(jìn)口分子泵機(jī)組、視頻顯微鏡、探針、智能溫控儀等配置
更新時(shí)間:2025-11-02
微型真空探針臺(tái)熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器 快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時(shí)間:2025-11-02
小型高低溫探針臺(tái)配套了高精度pid溫度控制器，用戶可以清楚直觀地了解了整體系統(tǒng)相關(guān)位置的溫度情況，確保溫度測(cè)試的可靠性。同時(shí)，200w 大功率直流輸出，可讓樣品臺(tái)快速?gòu)?196℃上升至350℃，大地提供了溫控效率，為用戶節(jié)省大量寶貴的實(shí)驗(yàn)時(shí)間。由于系統(tǒng)中溫控部件均為直流配置，也大大地減少了加熱部件的干擾，提供了系統(tǒng) 的漏電精度。
更新時(shí)間:2025-11-02
叉指電真空探針臺(tái) 是鄭州科探儀器門為實(shí)驗(yàn)研究設(shè)計(jì)的一款小型探針臺(tái)，具有高低溫功能，智能多端溫控，性價(jià)比高等特點(diǎn)。叉指陣列微電因其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單容易量產(chǎn),尺寸小響應(yīng)靈敏,且在檢測(cè)中能快速建立穩(wěn)定信號(hào)而被廣泛應(yīng)用于各類傳感器中。但是基于叉指電的傳感器在靈敏度、選擇性等重要的性能方面仍有待提高
更新時(shí)間:2025-11-02
微型高溫探針臺(tái)kt-z400mr4t，0-400℃溫控，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-02
真空探針臺(tái)kt-z160tz，高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境，以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間:2025-11-02
國(guó)產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀 js10a，穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量，采用金剛石探針，無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域，突破三個(gè)核心技術(shù)，國(guó)內(nèi)研發(fā)生產(chǎn)，便于售后服務(wù)。【支持定制臺(tái)階儀】
更新時(shí)間:2025-11-02
國(guó)產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀js100a，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。js100a提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-11-02
國(guó)產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀js1000a，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。js1000a提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-11-02
安捷倫 外顯子疾病聚焦捕獲探針 現(xiàn)貨供應(yīng) 產(chǎn)品貨號(hào)：5190-7787sureselect 疾病聚焦外顯子組 ruosureselect 聚焦外顯子組具有高度靶向設(shè)計(jì)，只
更新時(shí)間:2025-11-02
vb-40 analytik jena藍(lán)光切膠儀透照面積20x40cm，25瓦，琥珀色的面板可以轉(zhuǎn)化為藍(lán)光，容易觀察樣品。vb-40藍(lán)光切膠儀又叫藍(lán)光透照臺(tái)，具有紫外線安全性，可將365nm紫外線轉(zhuǎn)換
更新時(shí)間:2025-10-27
美國(guó)uvp m-15v紫外透照臺(tái)m-15v analytik jena 透照臺(tái)，功率為8w，波長(zhǎng)為中波302nm，透照面積為15x15cm。主要特點(diǎn)增強(qiáng)的紫外線輸出和強(qiáng)度不亮閃
更新時(shí)間:2025-10-27
lm-26 analytik jena雙波段紫外透照臺(tái)，功率為8w，雙波長(zhǎng)中波302nm和長(zhǎng)波365nm，透照面積為21x26cm。主要特點(diǎn)增強(qiáng)的紫外線輸出和強(qiáng)度不亮閃爍較寬的強(qiáng)度范圍與變量選擇（機(jī)型
更新時(shí)間:2025-10-27
一、儀器檢測(cè)電磁式振動(dòng)臺(tái)|虛焊高頻試驗(yàn)臺(tái)廠家產(chǎn)品概述電磁式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)高頻隨機(jī)振動(dòng)臺(tái) 采用線圈吸和磁場(chǎng)結(jié)構(gòu)生產(chǎn)的，主要用于電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、電工產(chǎn)品、機(jī)械產(chǎn)品、汽車行業(yè)以及其它涉及在制造、組裝、運(yùn)輸及
更新時(shí)間:2025-10-27
電磁式振動(dòng)臺(tái)/試驗(yàn)臺(tái)a:在頻率1hz且無(wú)負(fù)荷下,大位移為5mm(p-p),此情況不可碰撞,b:在頻率50hz且無(wú)負(fù)荷下,大位移為4mm(p-p),此情況不可碰撞c:在頻率40hz且在大負(fù)荷一半情況下,
更新時(shí)間:2025-10-27
電磁式振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)品介紹：主要用于電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、電工產(chǎn)品、機(jī)械產(chǎn)品、汽車行業(yè)以及其它涉及在制造、組裝、運(yùn)輸及使用過(guò)程中所遭受的振動(dòng)環(huán)境可能帶來(lái)的破壞，以評(píng)定相關(guān)工業(yè)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的耐振性、完好性和性。實(shí)現(xiàn)
更新時(shí)間:2025-10-27
隨機(jī)虛焊電磁式振動(dòng)臺(tái)/測(cè)試水平測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)產(chǎn)品概述1,電磁振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng),廣泛適用于國(guó)防,航空,通訊,電子,汽車摩托車,家電等行業(yè),該類型設(shè)備適用發(fā)現(xiàn)早期故障,模擬實(shí)際工況考核和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn),本系列產(chǎn)品應(yīng)
更新時(shí)間:2025-10-27
沖擊電磁式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)|單軸方向震動(dòng)測(cè)試臺(tái)用途：線路板四度一體機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 可程式一體機(jī)垂直水平99hz振動(dòng)臺(tái)，用于pcb板、電路板、線路板、舞臺(tái)燈光、led照明電器、led光電、半導(dǎo)體元器件、通訊器械
更新時(shí)間:2025-10-27
一,2000hz電磁式振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)品概述 1、電磁振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng),廣泛適用于國(guó)防,航空,通訊,電子,汽車摩托車,家電等行業(yè),該類型設(shè)備適用發(fā)現(xiàn)早期故障,模擬實(shí)際工況考核和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn),本系列產(chǎn)品應(yīng)用范
更新時(shí)間:2025-10-27
東莞市宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備有限公司產(chǎn)品說(shuō)明：電磁振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)用于模擬蓄電池單體或模組在一定的振動(dòng)測(cè)試條件下進(jìn)行測(cè)試，將電池或電池組固定在振動(dòng)臺(tái)上，按規(guī)定的頻率，加速度，位移模式沿電池樣品互相垂直的3個(gè)方向進(jìn)
更新時(shí)間:2025-10-27
機(jī)械式振動(dòng)臺(tái)廠家電子品虛焊檢測(cè)振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)1、試驗(yàn)負(fù)載（kg）：1002、 頻率范圍（0.01hz）：1hz~600hz（可定制）3、振幅（可調(diào)范圍mmp-p）：0~5mm&nbs
更新時(shí)間:2025-10-27
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間:2025-10-27
探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域： 晶圓測(cè)試、射頻測(cè)試、led 測(cè)試、高溫環(huán)境測(cè)試、功率器件測(cè)試、低溫真空測(cè)試、mems 測(cè)試、低電流（fa）測(cè)試、pcb 測(cè)試、i-v/c-v/p-iv 測(cè)試、液晶面板測(cè)試、高壓，大電流測(cè)試、太陽(yáng)能電池片測(cè)試、特殊氣體環(huán)境測(cè)試、材料表面電阻測(cè)試、強(qiáng)磁環(huán)境測(cè)試、納米器件測(cè)試、輻射環(huán)境測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-27
cg系列高低溫探針臺(tái)cindbest cg 系列手動(dòng)/半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)，針對(duì)6/8/12英寸晶圓有sc6/sc8/sc12之型號(hào),方便加裝探針卡進(jìn)行多芯片重復(fù)測(cè)試，另可加載高低溫卡盤(-80~200 ℃)和根據(jù)客需求定制。應(yīng)用領(lǐng)域：晶圓測(cè)試、 射頻測(cè)試、led 測(cè)試、 高溫環(huán)境測(cè)試、功率器件測(cè)試、 低溫真空測(cè)試、mems 測(cè)試、 低電流（fa）測(cè)試、pcb 測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-27
探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（超低溫探針臺(tái)），rf探針臺(tái)，lcd平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)
更新時(shí)間:2025-10-27
探針座主要應(yīng)用probe上,半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-10-27
cb-40探針臂x-y-z移動(dòng)行程：12 x 12 x 12mm，線性移動(dòng)絲杠精度：40 thread / inch移動(dòng)精度：10 微米配件：三軸探針夾具 同軸探針夾具 磁力底座 磁力翻轉(zhuǎn)底座 真空底座電動(dòng)針座升級(jí) 射頻探頭 光纖探頭 低電流/電容點(diǎn)測(cè)配件 高壓配件
更新時(shí)間:2025-10-27
直流測(cè)試探針，針對(duì)不同應(yīng)用有軟針和硬針。st系列硬針型號(hào)有：st-20-0.5，st-20-1，st-20-2，st-20-5，st-20-10。針尖直徑依次為：1um，2um，5um，10um，20um
更新時(shí)間:2025-10-27
美國(guó)emerson原裝進(jìn)口三軸公轉(zhuǎn)同軸母轉(zhuǎn)接頭/連接器triaxial(公) to coaxial（母）adapter
更新時(shí)間:2025-10-27
三軸母轉(zhuǎn)三軸母可夾板轉(zhuǎn)接頭，可用于隔板，真空腔內(nèi)密封使用。三軸轉(zhuǎn)接頭的屏蔽層有幾種不方式，請(qǐng)選擇您所需要的屏蔽方式。
更新時(shí)間:2025-10-27
hot chuck，樣品加熱臺(tái)低噪聲直流加熱，雙循環(huán)水路設(shè)計(jì)，可以在絕大多數(shù)探針臺(tái)上加裝，易于裝卸，多種溫度選擇范圍
更新時(shí)間:2025-10-27
探針夾具又稱探針桿，是固定在針座上面連接探針和信號(hào)線纜的機(jī)械裝置，用于固定探針和引出信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-10-27
主要應(yīng)用在光電器件及太陽(yáng)能電池方面的電學(xué)測(cè)量，在半導(dǎo)體/微電子，電子，機(jī)電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機(jī)電/mems，生物芯片，航空航天等科學(xué)研究領(lǐng)域，以及ic設(shè)計(jì)/制造/測(cè)試/封裝、led、lcd/oled、ld/pd、pcb、fpc等生產(chǎn)制造領(lǐng)域均有相關(guān)應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-10-27
深圳市森東寶科技有限公司(cindbest)是香港森東寶國(guó)際有限公司在大陸的全資子公司，自主研發(fā)cindbest品牌探針臺(tái)、激光修復(fù)儀、集代理半導(dǎo)體測(cè)試儀表的綜合型廠家。
更新時(shí)間:2025-10-27
cs系列 探針臺(tái)造型小巧，測(cè)量精度高，操作方便，符合人機(jī)工程學(xué)。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)。
更新時(shí)間:2025-10-27
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。特點(diǎn)：-80~200℃無(wú)霜精確控溫舒適大手柄驅(qū)動(dòng)chuck可以升級(jí)做射頻測(cè)試20x~4000x 光學(xué)顯微放大無(wú)后座力移動(dòng)針座平臺(tái)可以快速升降便于wafer取放
更新時(shí)間:2025-10-27
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間:2025-10-27
屏蔽箱又稱黑箱，可以屏蔽光及emi各類干擾信號(hào)，使得測(cè)量結(jié)果更精確。管狀?yuàn)A具（三軸線纜）配合屏蔽箱使用漏電精度可以達(dá)到100fa，彈簧夾具（同軸線纜）配合屏蔽箱使用漏電精度可以達(dá)到10pa。屏蔽箱可根據(jù)不同型號(hào)的探針臺(tái)定制不同的尺寸的屏蔽箱
更新時(shí)間:2025-10-27
光學(xué)平臺(tái)該系列光學(xué)平板是采用鋁合金或含磁不銹鋼精加工而成，重量輕，容易搬動(dòng)。上面陣列的標(biāo)準(zhǔn)孔距螺紋孔便于固定各種調(diào)整架。表面精飾處理，美觀耐用。特殊規(guī)格，接受定制。平面度: 0.3mm/600mm孔距: 25mmx25mm孔徑: m6
更新時(shí)間:2025-10-27
cb-100 0.7um探針座*x-y-z移動(dòng)行程：12 x 12x 12mm*移動(dòng)精度:0.7 微米*移動(dòng)方式:線性移動(dòng)/無(wú)后座力移動(dòng)*絲杠精度:100 thread / inch*夾具可以30度范圍傾仰*帶射頻測(cè)試線固定裝置*射頻測(cè)試能力：直流到 40ghz ~
更新時(shí)間:2025-10-27
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