比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家

比表面積及孔體積分析儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積及孔體積分析儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面及孔容分析儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面及孔容分析儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積及孔容測(cè)試儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積及孔容測(cè)試儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面和孔容測(cè)定儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面和孔容測(cè)定儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積和孔容檢測(cè)儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積和孔容檢測(cè)儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面及孔容積分析儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面及孔容積分析儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
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比表面積及孔容積測(cè)量?jī)x
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積及孔容積測(cè)量?jī)x,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積及孔隙率分析儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積及孔隙率分析儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
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比表面積及孔體積測(cè)試儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積及孔體積測(cè)試儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面和孔隙率檢測(cè)儀
3h-2000ps1 比表面和孔隙率檢測(cè)儀可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)介孔微孔材料的孔徑分布給出準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于大多數(shù)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求較高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x
3h-2000ps1比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)介孔微孔材料的孔徑分布給出準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于大多數(shù)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求較高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積及微孔分析儀
3h-2000ps1 比表面積及微孔分析儀可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)介孔微孔材料的孔徑分布給出準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于大多數(shù)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求較高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面和微孔分布分析儀
3h-2000ps1 比表面和微孔分布分析儀可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)介孔微孔材料的孔徑分布給出準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于大多數(shù)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求較高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積及介孔分析儀
3h-2000ps1比表面積及介孔分析儀可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)介孔微孔材料的孔徑分布給出準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于大多數(shù)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求較高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面及介孔分布測(cè)試儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面及介孔分布測(cè)試儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面和微孔測(cè)量?jī)x
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面和微孔測(cè)量?jī)x,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積和孔體積測(cè)定儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面積和孔體積測(cè)定儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面及孔徑分析儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面及孔徑分析儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面和孔徑分析儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)比表面和孔徑分析儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
硅酸鹽比表面積儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)硅酸鹽比表面積儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
礦物粉比表面積儀
貝士德公司從2000年開(kāi)始生產(chǎn)礦物粉比表面積儀,獲得多項(xiàng)國(guó)家技術(shù)型專(zhuān)利。該款型號(hào)可同時(shí)處理2個(gè)樣品,同時(shí)測(cè)試兩個(gè)樣品,并且擁有獨(dú)立的p0測(cè)試位,比表面測(cè)試范圍:0.01m2/g,孔徑:0.35~500nm。具有國(guó)內(nèi)唯一的樣品預(yù)處理可選模式(“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”)。
更新時(shí)間:2025-11-08
動(dòng)態(tài)法BET比表面檢測(cè)儀
貝士德公司在在國(guó)內(nèi)取得10項(xiàng)比表面積分析儀相關(guān)專(zhuān)利,為國(guó)內(nèi)以多項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)取得09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),是通過(guò)iso9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè);為動(dòng)態(tài)色譜法比表面儀最高精度的創(chuàng)造者與保持者。
更新時(shí)間:2025-11-08
多點(diǎn)BET比表面
貝士德公司在在國(guó)內(nèi)取得10項(xiàng)比表面積分析儀相關(guān)專(zhuān)利,為國(guó)內(nèi)以多項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)取得09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),是通過(guò)iso9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè);為動(dòng)態(tài)色譜法比表面儀最高精度的創(chuàng)造者與保持者。
更新時(shí)間:2025-11-08
多點(diǎn)BET比表面積
貝士德公司在在國(guó)內(nèi)取得10項(xiàng)比表面積分析儀相關(guān)專(zhuān)利,為國(guó)內(nèi)以多項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)取得09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),是通過(guò)iso9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè);為動(dòng)態(tài)色譜法比表面儀最高精度的創(chuàng)造者與保持者。
更新時(shí)間:2025-11-08
氮吸附BET測(cè)試儀
貝士德公司在在國(guó)內(nèi)取得10項(xiàng)比表面積分析儀相關(guān)專(zhuān)利,為國(guó)內(nèi)以多項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)取得09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),是通過(guò)iso9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè);為動(dòng)態(tài)色譜法比表面儀最高精度的創(chuàng)造者與保持者。
更新時(shí)間:2025-11-08
多孔材料BET測(cè)試
3h-2000ps2型多孔材料bet測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
靜態(tài)BET比表面積分析儀
3h-2000ps2型靜態(tài)bet比表面積分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
靜態(tài)BET比表面積測(cè)試儀
3h-2000ps2型靜態(tài)bet比表面積測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
靜態(tài)BET比表面積
3h-2000ps2型靜態(tài)bet比表面積儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
微孔比表面孔徑儀
3h-2000pm1微孔比表面孔徑儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
微孔比表面孔徑分析儀
3h-2000pm1微孔比表面孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)
更新時(shí)間:2025-11-08
微孔材料測(cè)試儀
3h-2000pm1微孔材料測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
比表面積和微孔分析儀
3h-2000pm1比表面積和微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)比表面和孔隙率分析
3h-2000ps2型全自動(dòng)比表面和孔隙率分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)比表面和孔隙分析
3h-2000ps2型全自動(dòng)比表面和孔隙分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)比表面及孔隙分析
3h-2000ps2型全自動(dòng)比表面及孔隙分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)孔隙率測(cè)試儀
3h-2000ps2型全自動(dòng)孔隙率測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)微孔分析
3h-2000pm2全自動(dòng)微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)微孔分析儀
3h-2000pm2全自動(dòng)微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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孔容測(cè)試
3h-2000ps2型孔容測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
全自動(dòng)比表面和孔徑分析儀
3h-2000ps2型全自動(dòng)比表面和孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-08
高性能微孔孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能微孔孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-08
高性能微孔孔徑分析
3h-2000pm1高性能微孔孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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微孔孔徑測(cè)試儀
3h-2000pm1微孔孔徑測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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國(guó)產(chǎn)品牌比表面及孔隙分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3h-2000pm1國(guó)產(chǎn)品牌比表面及孔隙分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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國(guó)產(chǎn)品牌比表面及孔隙率分析儀
3h-2000pm1國(guó)產(chǎn)品牌比表面及孔隙率分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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國(guó)產(chǎn)品牌比表面及孔隙度分析儀
3h-2000pm1國(guó)產(chǎn)品牌比表面及孔隙度分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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國(guó)產(chǎn)品牌比表面積及孔隙度分析儀
3h-2000pm1國(guó)產(chǎn)品牌比表面積及孔隙度分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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國(guó)產(chǎn)品牌比表面積及孔隙率分析儀
3h-2000pm1國(guó)產(chǎn)品牌比表面積及孔隙率分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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國(guó)產(chǎn)品牌比表面積及孔隙分析儀
3h-2000pm1國(guó)產(chǎn)品牌比表面積及孔隙分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
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