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MIPI調試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動 硬件工程師調試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-11-05
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序:
更新時間:2025-11-05
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-11-05
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-11-05
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-11-05
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-11-05
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質量其實會變差,這個當然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-11-05
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-11-05
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-11-05
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備,這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-11-05
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網(wǎng)絡中的層次結構有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中,數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-11-05
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-11-05
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-11-05
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-11-05
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-11-05
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術,由于采用 4 電平調制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-11-05
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-11-05
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-11-05
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時,工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構, ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調性。
更新時間:2025-11-05
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-11-05
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真,那么只能在產(chǎn)品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-11-05
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-11-05
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-11-05
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-11-05
英國PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟實用,使用簡單,性價比非常高。直流柔性探頭結構:纖細、柔軟的感應套環(huán),讓您輕而易舉地與實際測量對象相連接。
更新時間:2025-11-04
美國FCC電流探頭
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭,這些探頭能感應耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號,當用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍:10 khz to 200 mhz,轉移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2025-11-04
美國FCC電流鉗
特別高效的電流鉗(耦合系數(shù)小于7db),產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放,比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率,內徑40mm,完全符合iec61000-4-6(gb/t 17626.6)的要求。
更新時間:2025-11-04
英國PEM 低頻羅氏線圈LFR
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差,超寬的頻帶范圍,使其可以測量被測信號的400次諧波(@45/65hz)。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應曲線,有著高的線性度。配備有10:1的電流開關檔,使其有著更寬的動態(tài)測試范圍.
更新時間:2025-11-04
英國PEM交流電流探頭RCTi系列
rcti是工業(yè)級專用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細、輕巧、柔性。從感應線圈輸出實時的與測量電流相對應的電壓。
更新時間:2025-11-04
美國Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器(ct)提供準確,無損(非接觸)的單或重復單或雙的測量 脈沖或連續(xù)波。
更新時間:2025-11-04
德國萊默爾 Erhardt+Leimer張力信號放大器,E+L張力變送器
德國萊默爾 erhardt+leimer張力信號放大器,e+l張力變送器 cv2201erhardt + leimer是一家面向國際的私有集團公司,其總部位于德國奧格斯堡。它成立于1919年,到2019年,在 擁有c過1600名員工。在2019年,他們的營業(yè)額達到1.75億歐元。
更新時間:2025-11-04
慢走絲過濾器,慢走絲離子交換樹脂
本公司長期有:三菱線切割原廠配件,沙迪克線切機原廠配件,西部線切割機原廠配件,日立線切割機原廠配件,慶鴻線切割機原廠配件,亞特/茗亞線切割機原廠配件,富士通線切割機原廠配件,夏米爾線切割機原廠配件,臺灣三貴火花機用配件等。多種線切割與打孔機配件,耗材批發(fā)出售。
更新時間:2025-11-04
磨床永磁吸盤廠家直銷保修一年
各規(guī)格型號磁盤:電磁吸盤,加工中心強力吸盤,磨床永磁吸盤,雕刻機細目永磁 吸盤,火花機磁盤,線切割磁盤,磨刀機專業(yè)磁盤,一體正弦臺,彎弓正弦臺,雙傾正弦臺,旋轉磁臺,直角磁臺,圓形吸盤,紅銅.黃銅永磁吸盤,雙面永磁吸盤,導磁塊等……機床精密配件.定做非標吸盤
更新時間:2025-11-04
日本NIKON高度計
日本 nikon高度計:加高型精密高度計,量程小于等于100mm的產(chǎn)品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計:流水生產(chǎn)線可以每線一臺,高精度高效測量,是高精度產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計:選配特殊測針,可完成小深孔,盲孔測量,這是三坐標,影像儀,投影儀與顯微鏡無法代替的特點,特制測頭還可測
更新時間:2025-11-04
德國Minro米諾高度計特價批發(fā)
米諾高度計非常順滑的柱塞運動。米諾高度計周期可靠性優(yōu)于2,000,000hz,保證高速位移時不丟失數(shù)據(jù)。米諾高度計靈活選擇的探針。米諾高度計0-50mm或0-100mm的測量范圍可選。
更新時間:2025-11-04
寧波CNC高速電火花細孔穿孔機
余姚高速電火花穿孔機采用電極管(黃銅管,紫銅管)作為工具電極利用電火花放電蝕除原理,在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬,電流的放電加工,輔以高壓水冷卻排渣,使工件的蝕除速度加快,特別適用于不銹鋼,淬火鋼,銅,鋁,硬質合金等各種導電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔,深度100mm,可直接在工件的斜面,曲加工,用于電火花線切割加工的穿絲孔,化纖噴絲頭,噴絲板的噴絲孔,濾板,篩板的群孔
更新時間:2025-11-04
通用機車信號發(fā)碼器陜西鴻信鐵路設備設備部
陜西鴻信鐵路設備設備部長期供應鐵路通用機車信號發(fā)碼器是集交流計數(shù)、um71系列、國內4,8、12,18信息移頻信號制式、25,hz50hz,75hz微電子交流計數(shù)信號制式和zpw2000制式信號于一體的鐵路信號設備檢修發(fā)碼器。它能滿足我國鐵路機車信號設備現(xiàn)場調試與安裝的需要,方便維護人員對機車信號設備的日常維護及檢修。
更新時間:2025-11-04
日本強力Kanetec高斯計TM-801EXP
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變,但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2025-11-04
耳酷靈聽力篩查儀
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應和聲阻抗等電生理學檢測,在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個聞名于兩步篩查(oae/abr)的新版本聽力篩查儀,具有快速、準確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一,耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽。 顯著提高工作效率
更新時間:2025-11-04
GSC60CN多功能電氣安全電能質量綜合分析儀,安規(guī)儀
原裝進口產(chǎn)品,觸摸屏操作簡單。由普通電池供電,方便操作現(xiàn)場更換,功能強大,可以測量電能質量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流,無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2025-11-04
IEC61032試驗探棒GB4706.1全套試驗指標準試驗指
iec61032試驗探棒gb4706.1全套試驗指基本簡介:1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應條款制作而成。2、試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03
兒童試驗彎指19號試驗探棒試具19
深圳兒童試驗彎指/19號試驗探棒基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指(19號試驗探棒)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03
燈頭溫升試驗鎳圈E14燈頭溫升試驗鎳圈E39溫升試驗燈座
燈頭溫升試驗鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360:2002相關燈頭溫升測試標準要求制作而成。成分:ni純度99.6%以上的日本進口純鎳;結構和特性: 材料的晶粒應精細且有規(guī)則結構,晶粒度:zui小值為astm8(zui大不超過0.019
更新時間:2025-11-03
IPX56防噴水試驗噴頭IPX6強噴水試驗裝置
ipx56防噴水試驗噴頭/ipx6強噴水試驗裝置ipx5防噴水試驗噴嘴一、 產(chǎn)品概述:防噴水試驗裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標準的相關條款要求制作,用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進行測試
更新時間:2025-11-03
12.5mm試驗探棒IP20C試驗探棒12.5試驗探球
12.5mm試驗探棒|ip20c試驗探棒基本簡介:1、根據(jù)din40050等相應條款制作而成。2、12.5mm試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03
配電柜3C檢測用IP4X試具IP40試驗探針I(yè)P4X試驗探棒
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介: 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、d類試驗探棒(d類試驗針)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03
IP10試驗探棒IP1X試驗探球試具A鋼球探棒
ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介:1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、a類試驗探棒(a類試驗探球)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03
UL試驗彎指UL鉸接試驗指PA100A試驗探棒
ul試驗彎指ul鉸接試驗指pa100a探棒基本簡介:1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應條款制作而成。2、ul試驗彎指是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03
IPX34花灑式淋雨試驗裝置IPX34手持式防淋水濺水試驗裝置
ipx34花灑式淋雨試驗裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗裝置 試驗標準:符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時間:2025-11-03

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑