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美國Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器(ct)提供準確,無損(非接觸)的單或重復單或雙的測量 脈沖或連續(xù)波。
更新時間:2025-11-04
漏水探測儀數字濾波型
jt-5000漏水探測儀數字濾波型采用微處理器數字化處理線路,,在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實時漏水靈音,高靈敏主動式傳感器,光電無觸點手柄開關,大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-11-04
漏水探測儀高靈敏智能型
jt-1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數化線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機身。
更新時間:2025-11-04
手持式地下管道漏水檢測儀
jt-sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜,手持即可檢測,可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏,包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時間:2025-11-04
管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術、現代音頻信號處理技術、嵌入式微處理器技術、智能數據分析及輔助圖形技術等當先進技術,其聽音效果清晰、適合復雜工況場合、智能化數據分析、可靠穩(wěn)定,是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產生的振動信號來準確定位泄漏點的位置。
更新時間:2025-11-04
供應管道漏水檢測儀/自來水管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀,主機體積只有150mm×70mm×116mm大小,重約870克,攜帶操作為輕巧簡便,整體設計采用全金屬外殼,堅固耐用。
更新時間:2025-11-04
供應管道測漏儀/漏水檢測儀/數字式漏水檢測儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器,也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏,當管道內流體在壓力下逸出時,產生噪音能沿管道傳播,或沿埋層介質傳播到地面,檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。
更新時間:2025-11-04
供應數字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀
jt-5000智能型數字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數字化處理線路,在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實時漏水錄音,高靈敏主動式傳感器,光電無觸點手柄開關,大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-11-04
供應地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-sc01型手持式智能數字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜,手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當某處破損泄漏時,壓力水油氣從管道破損處向處噴射,與管道破裂縫隙間的摩擦而產生振動會引起噴注噪聲,這種聲音隨管道向兩側和埋設地面上方路面?zhèn)鞑,此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號,通過主機進行放大顯示,并有選擇的過濾噪音,獨立出泄漏聲波,使操作者找到泄漏源
更新時間:2025-11-04
供應智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-1a地下管道泄漏檢測儀,是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器,擁有超強的抗干擾與數據處理能力,輸出泄漏信號清晰靈敏,操作界面目了然,可以使您的工作更加輕松,它具有以下主要特點:微處理器數字經線路,高保真高降噪信號顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機身。
更新時間:2025-11-04
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-11-04
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-11-04
梅特勒電極(有問題,產品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-11-04
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備,這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-11-04
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中,數據報文先在設備的核心層(device core)中產生,然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-11-04
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài),主電源已經停止供電時,pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-11-04
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-11-04
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-11-04
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-11-04
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術,由于采用 4 電平調制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-11-04
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-11-04
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當的時代,工程界已經積累了很多實踐經驗,再搭上互聯(lián)網大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗,但是經驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-11-04
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時,工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構, ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中,發(fā)現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-11-04
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商,而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-11-04
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真,那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現問題,如果要改善, 只能再改板調整,還可能出現改板很多次的情況,這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-11-04
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-11-04
MIPI傳輸過程中的信號質量問題
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機內部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標準化,減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-11-04
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-11-04
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質量問題 MIPI驅動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-11-04
硬件工程師調試MIPI屏經驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅動問題
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-11-04
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調試經驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-11-04
MIPI調試經驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動 硬件工程師調試MIPI屏經驗
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-11-04
MIPI調試經驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動 硬件工程師調試MIPI屏經驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-11-04
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數據格式,加深在數據線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序:
更新時間:2025-11-04
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表,sav和evav之間的保護數據是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-11-04
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時,eof中斷就產生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-11-04
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-11-04
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設定為yuv模式,因此,csi獲取的數據也是yuv格式的數據,因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-11-04
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質量其實會變差,這個當然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-11-04
MIPI眼圖 數據 CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-11-04
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-11-04
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-11-04
德國萊默爾 Erhardt+Leimer張力信號放大器,E+L張力變送器
德國萊默爾 erhardt+leimer張力信號放大器,e+l張力變送器 cv2201erhardt + leimer是一家面向國際的私有集團公司,其總部位于德國奧格斯堡。它成立于1919年,到2019年,在 擁有c過1600名員工。在2019年,他們的營業(yè)額達到1.75億歐元。
更新時間:2025-11-04
慢走絲過濾器,慢走絲離子交換樹脂
本公司長期有:三菱線切割原廠配件,沙迪克線切機原廠配件,西部線切割機原廠配件,日立線切割機原廠配件,慶鴻線切割機原廠配件,亞特/茗亞線切割機原廠配件,富士通線切割機原廠配件,夏米爾線切割機原廠配件,臺灣三貴火花機用配件等。多種線切割與打孔機配件,耗材批發(fā)出售。
更新時間:2025-11-04
磨床永磁吸盤廠家直銷保修一年
各規(guī)格型號磁盤:電磁吸盤,加工中心強力吸盤,磨床永磁吸盤,雕刻機細目永磁 吸盤,火花機磁盤,線切割磁盤,磨刀機專業(yè)磁盤,一體正弦臺,彎弓正弦臺,雙傾正弦臺,旋轉磁臺,直角磁臺,圓形吸盤,紅銅.黃銅永磁吸盤,雙面永磁吸盤,導磁塊等……機床精密配件.定做非標吸盤
更新時間:2025-11-04
日本NIKON高度計
日本 nikon高度計:加高型精密高度計,量程小于等于100mm的產品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計:流水生產線可以每線一臺,高精度高效測量,是高精度產品生產企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計:選配特殊測針,可完成小深孔,盲孔測量,這是三坐標,影像儀,投影儀與顯微鏡無法代替的特點,特制測頭還可測
更新時間:2025-11-04
德國Minro米諾高度計特價批發(fā)
米諾高度計非常順滑的柱塞運動。米諾高度計周期可靠性優(yōu)于2,000,000hz,保證高速位移時不丟失數據。米諾高度計靈活選擇的探針。米諾高度計0-50mm或0-100mm的測量范圍可選。
更新時間:2025-11-04
寧波CNC高速電火花細孔穿孔機
余姚高速電火花穿孔機采用電極管(黃銅管,紫銅管)作為工具電極利用電火花放電蝕除原理,在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬,電流的放電加工,輔以高壓水冷卻排渣,使工件的蝕除速度加快,特別適用于不銹鋼,淬火鋼,銅,鋁,硬質合金等各種導電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔,深度100mm,可直接在工件的斜面,曲加工,用于電火花線切割加工的穿絲孔,化纖噴絲頭,噴絲板的噴絲孔,濾板,篩板的群孔
更新時間:2025-11-04
IEC61032試驗探棒GB4706.1全套試驗指標準試驗指
iec61032試驗探棒gb4706.1全套試驗指基本簡介:1、根據iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應條款制作而成。2、試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-11-03

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