示波器產(chǎn)品及廠家

SI一致性測試 完整性 SI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2025-05-08
硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 高級
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
更新時間:2025-05-08
硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 中級
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 初級
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 初級中級高級
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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高級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn)
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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中級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn)
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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初級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn)
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
更新時間:2025-05-08
初級中級高級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn)
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
更新時間:2025-05-08
初級中級高級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 淼森波智能硬件共享實驗室
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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中級高級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 淼森波智能硬件共享實驗室
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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初級中級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 淼森波智能硬件共享實驗室
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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高級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 淼森波智能硬件共享實驗室
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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中級硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 淼森波智能硬件共享實驗室
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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淼森波智能硬件共享實驗室 硬件開發(fā)工程師培訓(xùn)
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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淼森波培訓(xùn) 硬件開發(fā)工程師培訓(xùn) 智能硬件共享實驗室
硬件工程師培訓(xùn)對于個人職業(yè)發(fā)展、企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新以及國家科技進步都具有十分重要的意義。在新時代背景下，加強硬件工程師的培訓(xùn)，是推動我國電子信息產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要舉措。
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什么是SI信號完整性 信號完整性測試 電源完整性測試 USB一致性測試 HDMI一致性測試 以太網(wǎng)一致性測試
什么是si信號完整性 主要包括信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)。電路板測試服務(wù)：① si信號完整性測試，電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、及板卡上其它芯片接口的信號測試。② pi電源完整性測試，電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動電路參數(shù)。③ 一致性以太網(wǎng)、usb2.0、us
更新時間:2025-05-08
PI仿真 測試 淼森波硬件共享實驗室
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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PI仿真 PI信號一致性測試 淼森波硬件共享實驗室
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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PI信號一致性測試 PI仿真 淼森波硬件共享實驗室
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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淼森波硬件共享實驗室 PI信號一致性測試 PI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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淼森波實驗室 PI信號一致性測試 PI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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淼森波 PI信號一致性測試 PI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2025-05-08
PI信號一致性測試 PI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2025-05-08
PI一致性測試 PI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊，信號完整性測試和電源完整性測試，一致性測試服務(wù)，硬件測試培訓(xùn),主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2025-05-08
淼森波 一致性信號測試 芯片驗證測試 硬件測試 替代測試主要內(nèi)容 實驗室
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
淼森波 信號測試 一致性測試 芯片驗證測試 硬件測試 替代測試主要內(nèi)容 實驗室
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
芯片驗證測試 硬件測試 替代測試主要內(nèi)容 淼森波實驗室 信號測試 一致性測試
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
芯片驗證測試 一致性測試 硬件測試 替代測試主要內(nèi)容 淼森波實驗室 信號測試
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
芯片驗證測試 硬件測試 替代測試主要內(nèi)容 淼森波實驗室 信號測試
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
芯片驗證測試 硬件測試 替代測試主要內(nèi)容 淼森波實驗室 芯片國產(chǎn)化驗證測試
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容 淼森波實驗室 芯片國產(chǎn)化驗證測試
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
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淼森波實驗室 芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容 國產(chǎn)芯片替代測試 芯片國產(chǎn)化
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
淼森波實驗室 芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容 國產(chǎn)芯片替代測試
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
淼森波 芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容 國產(chǎn)芯片替代測試 高速連接器 RJ45器件
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容 高速連接器 RJ45器件 國產(chǎn)芯片替代測試
芯片驗證測試 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo) 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試意義 一致性測試 S參數(shù)測試 信號完整性測試 硬件測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試意義 示波器 一致性測試 S參數(shù)測試 信號完整性測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試意義 測試方案 一致性測試 S參數(shù)測試 信號完整性測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試意義 測試方案 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試意義 S參數(shù)測試方案 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試方法 淼森波 S參數(shù)測試方案 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
淼森波實驗室 S參數(shù)測試方法 S參數(shù)測試方案 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
淼森波實驗室 S參數(shù)測試方法 測試方案 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室 S參數(shù)測試方法 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室 信號完整性測試 一致性測試 S參數(shù)測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
淼森波實驗室 一致性測試 S參數(shù)測試 信號完整性測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
淼森波實驗室 S參數(shù)測試 信號完整性測試 回?fù)p測試 插損測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
S參數(shù)測試 Misenbo 信號完整性測試 回?fù)p測試 插損測試
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2025-05-08
信號完整性測試 回?fù)p測試 插損測試 S參數(shù)測試 Misenbo
s參數(shù)，即散射參數(shù)（scattering parameters），是用于描述電網(wǎng)（或電路）在電信號激勵下的行為的數(shù)學(xué)矩陣中的元素。在高頻（超過幾千兆赫茲）條件下，由于難以直接測量電壓和電流，s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同，主要在于s參數(shù)使用匹配負(fù)載來表征電網(wǎng)，而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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