元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家

LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀
cht3570 lcr數(shù)字電橋是采用最新測(cè)量原理打造的新款低頻元件測(cè)量?jī)x器,其高精度高測(cè)量速度,大字符液晶顯示屏,表面貼裝技術(shù),人性化的菜單設(shè)置,出色的外觀,無(wú)論是應(yīng)用于生產(chǎn)線的質(zhì)量控制,來(lái)料檢驗(yàn)和元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)均游刃有余。 rs-232c及handler接口配置為遠(yuǎn)程控制及組建系統(tǒng)提供了技術(shù)平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-11-03
QJ36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀
qj36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀具有價(jià)格低廉、測(cè)量精度高、性能穩(wěn)、使用方便等特點(diǎn),它適用于測(cè)量各種電線、電纜的電阻值、各類線圈、電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻,特別是具有自校功能,提高儀器的精度,省去了操作人員的送檢時(shí)間。因此該儀器廣泛應(yīng)用工廠、科研單位的工作場(chǎng)地和實(shí)驗(yàn)室。
更新時(shí)間:2025-11-03
熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)
熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害,減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間,快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。
更新時(shí)間:2025-11-03
元器件模型提取
元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(eda)中,從實(shí)際的元器件(如電阻、電容、晶體管等)或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過(guò)程。這一過(guò)程通常用于電路仿真,以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2025-11-03
二極管 三極管專用測(cè)試儀器_QT2A型半導(dǎo)體管特性圖示儀
qt2a半導(dǎo)體管特性圖示儀可根據(jù)需要測(cè)量半導(dǎo)體二極管、三極管的低頻直流參數(shù),最大集電極電流可達(dá)50a,   基本滿足功率500w以下的半導(dǎo)體管的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-03
三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀
三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀氧化鋅避雷器帶線測(cè)試儀是用于檢測(cè)氧化鋅避雷器電氣性能的用儀器,該儀器適用于各種電壓等的氧化鋅避雷器的帶電或停電檢測(cè),從而及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部絕緣受潮及閥片老化等危險(xiǎn)缺陷。
更新時(shí)間:2025-11-03
石英鐘表精密測(cè)試儀
cx- zb-5 用途:廣泛用于石英鐘表工業(yè)屆的精密測(cè)量的儀器,主要用于測(cè)量鐘表用的石英晶體頻率的精度,及測(cè)量各類石英鐘表,主機(jī)板,pda,dsc,筆記本電腦時(shí)間準(zhǔn)確度的儀器.
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3(NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
PCIE5.0 夾具 驗(yàn)證,調(diào)試和一到性測(cè)試解決方案
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-11-03
精密電流源國(guó)產(chǎn)SMU源表
普賽斯源表精確提供四象限電壓或電流,并同步測(cè)量電流和電壓;可以實(shí)現(xiàn)電源、萬(wàn)用表、電子負(fù)載、電源/測(cè)量組合功能;用途:精確提供和測(cè)量電壓和/或電流,廣泛應(yīng)用于各種電器特性參數(shù)測(cè)試中,如iv掃描
更新時(shí)間:2025-11-03
半導(dǎo)體分立器件電性能分析數(shù)字源表高精度IV曲線掃描
s200型數(shù)字源表精確提供四象限電壓或電流,并同步測(cè)量電流和電壓;可以實(shí)現(xiàn)電源、萬(wàn)用表、電子負(fù)載、電源/測(cè)量組合功能;用途:精確提供和測(cè)量電壓和/或電流,廣泛應(yīng)用于各種電器特性參數(shù)測(cè)試中
更新時(shí)間:2025-11-03
國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表-集5臺(tái)儀表功能于一體
國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表同時(shí)精確提供測(cè)量電壓和電流,減少了測(cè)試時(shí)間。如果被測(cè)設(shè)備實(shí)際電壓值或者電流值達(dá)到了用戶設(shè)置的限制值,那么電壓或者電流會(huì)被精確的限制住,避免了對(duì)被測(cè)設(shè)備造成損壞。
更新時(shí)間:2025-11-03
雙性電源數(shù)字源表
雙性電源數(shù)字源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的率先國(guó)產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,大輸出電壓達(dá) 300v,小測(cè)試電流達(dá) 100pa,支持四象限工作
更新時(shí)間:2025-11-03
數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)品牌市場(chǎng)報(bào)價(jià)
普賽斯數(shù)字源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠,數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)品牌市場(chǎng)報(bào)價(jià)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢
更新時(shí)間:2025-11-03
電參數(shù)性能測(cè)試源表+源表精度
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pa輸出測(cè)量、3500v高壓下na測(cè)量、1000a脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,電參數(shù)性能測(cè)試源表+源表精度認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢
更新時(shí)間:2025-11-03
同步測(cè)量IV電流電壓數(shù)字源表價(jià)格多少
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pa輸出測(cè)量、3500v高壓下na測(cè)量、1000a脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,同步測(cè)量iv電流電壓數(shù)字源表價(jià)格多少找普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03
微弱電流100pA電壓300V掃描數(shù)字源表
武漢普賽斯是國(guó)內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過(guò)了市場(chǎng)的考驗(yàn)、市面有近500臺(tái)源表在使用,市場(chǎng)應(yīng)用率高;sxxb系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)s系列源表,直流更大、精度更高、準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升至3a,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案,微弱電流100pa電壓300v掃描數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03
國(guó)產(chǎn)源表全國(guó)聯(lián)保
普賽斯s系列源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠!大輸出電壓達(dá)300v,小測(cè)試電流達(dá)100pa,支持四象限工作
更新時(shí)間:2025-11-03
源表品牌+源表國(guó)產(chǎn)廠家-普賽斯儀表
與只能做單點(diǎn)測(cè)量的數(shù)字多用表不同,普賽斯數(shù)字源表由于其內(nèi)置了源功能,所以可以用來(lái)生成一組電流-電壓(i-v)特性曲線,大大提高了測(cè)試效率,s系列源表精度高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,價(jià)格優(yōu)惠!
更新時(shí)間:2025-11-03
1200V半導(dǎo)體參數(shù)分析儀CV+IV測(cè)試儀
spa-6100型1200v半導(dǎo)體參數(shù)分析儀cv+iv測(cè)試儀可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要,靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升。產(chǎn)品支持z高1200v電壓、100a大電流、1pa小電流分辨率的測(cè)量,同時(shí)檢測(cè)10khz至1mhz范圍內(nèi)的多頻ac電容測(cè)量
更新時(shí)間:2025-11-03
國(guó)產(chǎn)源表哪里有,源表產(chǎn)地認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
普賽斯s系列國(guó)產(chǎn)源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠
更新時(shí)間:2025-11-03
源表+數(shù)字源表+源表產(chǎn)地-普賽斯儀表
源表+數(shù)字源表+源表產(chǎn)地-普賽斯儀表,s300型源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的率先國(guó)產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,大輸出電壓達(dá)300v,小測(cè)試電流100pa,支持四象限工作
更新時(shí)間:2025-11-03
半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)
半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件(dut)施加電壓或電流,然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng);通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí),還占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間,實(shí)施特性參數(shù)分析的佳工具之一是數(shù)字源表(smu)。
更新時(shí)間:2025-11-03
國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表價(jià)格
武漢普賽斯國(guó)內(nèi)率先推出的基于源表(源測(cè)單元)的兩大系列產(chǎn)品:臺(tái)式源表系列、源表單元系列,在光通信chip和有源光器件廠家廣泛使用。普賽斯s系列源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠,國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表價(jià)格認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03
微弱電流電壓測(cè)試數(shù)字源表
s系列源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的率先國(guó)產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,大輸出電壓達(dá)300v,小測(cè)試電流100pa,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中:半導(dǎo)體ic或元器件,功率器件,傳感器,有機(jī)材料與納米材料等特性測(cè)試和分析,微弱電流電壓測(cè)試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢
更新時(shí)間:2025-11-03
對(duì)標(biāo)吉時(shí)利2400源表找普賽斯S系列源表,源表價(jià)格
普賽斯s系列源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠
更新時(shí)間:2025-11-03
光電二管電性能分析源表高精度I-V曲線掃描
實(shí)施光電性能參數(shù)表征分析的z佳工具之一是數(shù)字源表(smu)。數(shù)字源表作為獨(dú)立的電壓源或電流源,可輸出恒壓、恒流、或者脈沖信號(hào),還可以當(dāng)作表,進(jìn)行電壓或者電流測(cè)量;支持trig觸發(fā),可實(shí)現(xiàn)多臺(tái)儀表聯(lián)動(dòng)工作;針對(duì)光電探測(cè)器單個(gè)樣品測(cè)試以及多樣品驗(yàn)證測(cè)試,可直接通過(guò)單臺(tái)數(shù)字源表、多臺(tái)數(shù)字源表或插卡式源表搭建完整的測(cè)試方案,光電二管電性能分析源表高精度i-v曲線掃描認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03
二管直流參數(shù)測(cè)試SMU源表
二管在出廠必須進(jìn)行三項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試:正向電壓(vf)、擊穿電壓(vr)和反向漏流(ir)測(cè)試。通常上述測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如:數(shù)字表,電壓源,電流源等。但儀器數(shù)目增多,必然引起測(cè)試速度下降,從而影響產(chǎn)量。使用普賽斯s系列數(shù)字源表,配合相應(yīng)軟件編程,可以簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng),提高測(cè)試速度和質(zhì)量,二管直流參數(shù)測(cè)試smu源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03
功率器件靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)
普賽斯功率器件靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng),集多種測(cè)量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測(cè)量igbt功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uq精確測(cè)量、na電流測(cè)量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。
更新時(shí)間:2025-11-03
鈣鈦礦太陽(yáng)能電池片多通道源表測(cè)試方案
普賽斯源表是對(duì)太陽(yáng)能電池和各種其他器件的i-v特性進(jìn)行表征的佳解決方案。其寬廣的電流和電壓測(cè)量范圍,可以為科研及生產(chǎn)制造提供卓越的測(cè)量性能。結(jié)合太陽(yáng)光模擬器以及用的上位機(jī)軟件,支持自動(dòng)掃描i-v特性曲線以及開(kāi)路電壓、短路電流、大功率、填充因子、轉(zhuǎn)換效率等參數(shù)的測(cè)量,能大簡(jiǎn)化太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試效率,可以比以更精確、更輕松的表征器件。鈣鈦礦太陽(yáng)能電池片多通道源表測(cè)試方案認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03
高精度源表型號(hào)_價(jià)格 _廠家
國(guó)產(chǎn)p系列脈沖源表,標(biāo)準(zhǔn)的scpi指令集,上位機(jī)軟件功能豐富、支持二次開(kāi)發(fā)集成,可用于大電流脈沖測(cè)試、微弱電流信號(hào)測(cè)試場(chǎng)景,z大脈沖輸出電流達(dá)10a,高精度源表型號(hào)_價(jià)格 _廠家認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
更新時(shí)間:2025-11-03

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